DDCOM 用于超快速晶體取向測量
用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。
超快速掃描方法
速度是Theta掃描方法的 200 倍
以3D形式自動評估完整晶格取向
在10秒內(nèi)測定整個晶體取向
高效的質(zhì)量控制工作流程
用于標準研究和工業(yè)工作流程
晶體取向的方位設(shè)置和標記
預編程的立方晶體參數(shù)
先進便捷的軟件
精度高,可達(1/100)°
結(jié)構(gòu)緊湊、用戶友好、性價比高
樣品處理方便,操作簡單
采用風冷 X射線光管(無需水冷),能耗和運行成本低
控制切割、研磨和拋光
單晶的完整晶格取向
適用于不同尺寸和重量的各種材料,例如:2-12“的晶圓和重達20kg的鑄錠